패널리스트: 존 키바리안, PDF 솔루션스 최고경영자(CEO) 겸 공동 창립자

이 무료 웨비나에서 참석자들은 기존 반도체 제조 장비와 수율 데이터에 검증된 스마트 제조 기술을 적용하여 IC 제조 과정에서 공정 흐름 또는 장비 문제를 자동으로 감지, 식별 및 대응할 수 있는 지능형 시스템을 구축하는 방법을 배우게 됩니다. 또한 시스템 내 피드백을 활용하여 핵심 센서를 식별하는 방법과 모델링을 통해 불량률, 수율 또는 전기적 성능과 같은 주요 성과 지표에 영향을 미치는 다변수 요인을 파악하는 방법을 학습하게 됩니다.

이 무료 웨비나에서 PDF Solutions는 선도적인 고객사들이 PDF Cloud를 활용하여 반도체 제조 환경의 효율성을 어떻게 개선하고 있는지 설명할 예정입니다.

발표: 머신 러닝 및 예측 분석을 통한 SiP 품질 향상 및 비용 절감

발표자: 제프 데이비드, PDF 솔루션즈 AI 솔루션 부사장

논문: 품질 향상 및 비용 절감을 위한 머신러닝과 고급 이상치 탐지 기술의 결합 발표자: 혼다 도모노리, 펠로우 시간: 2020년 10월 6일 화요일 오후 3시 (CDT)

논문: 보안 침해 탐지 및 원인 규명 발표자: 데이브 헌틀리, 비즈니스 개발 이사 시간: 가상 컨퍼런스, 2020년 10월 6일 이후 언제든지 이용 가능    

논문: AI-FDC - 공정 제어에 대한 현대적 접근법
발표자: 카즈키 쿠니토시, PDF 솔루션즈
시간: 11월 18일 수요일, 오전 10:45-11:10
장소: KFC 홀

논문: 팹 전체 공정 장비 상태 모니터링을 위한 자동화된 탑다운 시스템
발표자: Mike Keleher, PDF Solutions
시간: 12월 16일 수요일, 15:10~15:30 (일본 표준시)
장소: 가상 심포지엄 (자세한 내용은 웹사이트 참조)

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