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アドバンテスト、テラダイン、PDFソリューションズによるパネルディスカッション – ダウンロード
本プレゼンテーションでは、アドバンテスト、テラダイン、PDFソリューションズの専門家によるパネルディスカッションを通じ、半導体製造の最適化を目的とした先進的な実証済みテスト手法を探求します。テラダインのアルキメデス解析やアドバンテストのVminチューニングアプリケーションなど、革新的なデータ戦略とAI/ML駆動型アプローチの活用に焦点を当て、優れた歩留まり、運用効率、デバイス性能の実現を目指します。 主なトピックには、Vminテスト時間の短縮、コアあたりの消費電力最適化、故障予測モデルを活用した最終テスト歩留まりの向上などが含まれます。
プレゼンテーションの全文をダウンロードして、機械学習推論がウェーハ選別および最終テスト工程をどのように変革しているかをご覧ください。
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