심층 분석: PDF 솔루션 & 지멘스 – 다운로드

본 프레젠테이션은 Siemens의 Tessent Diagnosis와 Exensio MA를 통합하여 스캔 실패 분석을 위한 통합 솔루션을 구축하는 기술 전략을 개요합니다. 스캔 진단을 신제품 도입(NPI) 도구에서 대량 생산(HVM) 준비 솔루션으로 전환함으로써, Exensio 통합 플랫폼은 분산된 워크플로를 제거하고 중요한 레이아웃 설계 정보로 수율 분석을 강화합니다. 이 상세 개요는 해당 통합을 통해 제품 엔지니어가 더 높은 확률로 정확한 결함 위치를 특정하고, eProbe DirectScan 레시피를 최적화하며, EOL(End-of-Line) 테스트부터 인라인 스캔까지 폐쇄형 시스템을 구축하여 수율 향상을 가속화하는 방법을 설명합니다.

전체 프레젠테이션을 다운로드하여 Exensio AIM 스캔 분석의 기술 아키텍처와 주요 이점을 살펴보세요.