ディープダイブ：PDFソリューションズとシーメンス – ダウンロード

本プレゼンテーションでは、シーメンスのTessent DiagnosisとExensio MAを統合し、スキャン故障解析のための統合ソリューションを構築する技術戦略を概説します。スキャン診断を新製品導入（NPI）ツールから量産対応（HVM）ソリューションへ移行することで、Exensio統合プラットフォームは断片化されたワークフローを解消し、重要なレイアウト設計情報を活用した歩留まり分析を強化します。 詳細な概要では、この統合により製品エンジニアが以下のことを可能にする方法を説明します：- より高い確率で正確な故障位置を特定- eProbe DirectScanレシピの最適化- ライン終端検査（EOL）からインラインスキャンまでの閉ループシステムを確立し、歩留まり向上を加速

Exensio AIM Scan Analyticsの技術アーキテクチャと主な利点について詳しく知るには、プレゼンテーション資料の全文をダウンロードしてください。