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エクセンシオ欠陥管理データシート
Exensio®欠陥管理が、いかに欠陥分析プロセスに革命をもたらすかをご覧ください。この先進的なソリューションは、製造ライフサイクル全体(ウエハー開始から最終テストまで)にわたる欠陥検査データの読み込み、可視化、分析を支援します。強力な根本原因分析ツール、リアルタイムデータ調整、自動化機能を備えたExensio®は、タイムリーな欠陥検出を実現し、高コストな遅延を削減。化合物半導体の歩留まりを最大30%向上させます。
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