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Exensio缺陷管理数据表
探索Exensio®缺陷管理如何革新您的缺陷分析流程。这款先进解决方案助您在整个制造生命周期中加载、可视化并分析缺陷检测数据——从晶圆启动到最终测试。凭借强大的根本原因分析工具、实时数据对齐及自动化能力，Exensio®实现及时缺陷检测，减少高昂延误成本，并为化合物半导体提升高达30%的良率。
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