挖掘数据价值是下一个重大趋势
芯片已步入融合时代。从无人驾驶到虚拟现实，从人工智能到云计算，从5G到物联网，诸多力量正推动半导体测试技术持续进步。随着芯片承载功能日益增多、技术日益复杂，测试步骤的数量与种类必须成倍增加，进而导致测试成本攀升。 半导体测试设备需要超长的"待机"时间，这对于半导体制造工厂而言是重资产投资，其生命周期至少为5至10年。在芯片技术与工艺快速升级迭代的智能化世界中，这类设备必须随时满足日益复杂的测试需求。
测试工作必须始终领先于芯片发展。因此，在漫长的"待机"期中，需要哪些技术来持续更新测试设备？在提升良率与控制成本的博弈中，开发先进的测试设备能力已成为当务之急。 这意味着测试测量解决方案必须扩展至覆盖整个半导体产业价值链。在继续服务于传统测试"核心领域"（集成电路生产工艺、晶圆测试和最终测试）的同时，测试技术既要向左延伸（实现与集成电路设计的深度融合），又要向右拓展（在产品层面开展更多系统级测试），同时还要向上攀升（接入云端、人工智能和大数据领域）。
海量半导体测试数据的价值亟待挖掘与运用，因为它不仅能提升测试效率、保障产品良率，更能通过数据分析实现测试方案优化与成本管控。这对Advantest及PDF Solutions——这家为半导体生态系统提供综合数据解决方案的供应商而言，亦是至关重要的基础性需求。
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