[gtranslate]
通过解决布局图案系统性缺陷来提高良率演示文稿下载
了解西门子如何运用先进的人工智能和布局分析技术解决半导体设计中的系统性缺陷。本次演讲将探讨布局模式系统性缺陷的识别方法、成功的硅片验证成果，以及这些创新技术如何缩短失效分析时间、降低成本，从而提升先进工艺节点的良率与效率。
立即下载，深入了解推动半导体制造领域生产效率与质量提升的前沿技术。
下载本信息即表示我同意PDF Solutions, Inc.可使用我在此提供的信息联系我，告知其产品与服务相关事宜，即使我此前已取消订阅此类通讯。有关我们的隐私保护措施及对保护您隐私的承诺，请查阅我们的《隐私政策》。