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与爱德万测试、泰瑞达、PDF Solutions的专题讨论会——下载
本次演讲特邀爱德万测试、泰瑞达和PDF Solutions的专家组成专题讨论组，深入探讨旨在优化半导体制造的先进测试方法。讨论重点聚焦于运用创新数据策略及人工智能/机器学习驱动的解决方案——例如泰瑞达的阿基米德分析系统和爱德万测试的Vmin调优应用——以实现卓越的良率、运营效率及器件性能。 核心议题包括：缩短Vmin测试周期、优化单核功耗、运用故障预测模型提升最终测试良率。
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