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深度解析：PDF 解決方案與西門子 – 下載
本簡報概述了將西門子（Siemens）的 Tessent Diagnosis 與 Exensio™ MA 整合，以打造統一掃描失效分析解決方案的技術策略。透過將掃描診斷從「新產品導入（NPI）」工具轉變為「大量生產（HVM）」就緒解決方案，Exensio 統一平台不僅消除了工作流程的碎片化，更透過關鍵佈局設計資訊，豐富了良率分析內容。 本詳細概述闡述了此整合方案如何協助產品工程師以更高準確度精確定位故障點、優化 eProbe™ DirectScan™ 測試參數，並建立從產線末端 (EOL) 測試到線上掃描的閉環系統，從而加速良率提升。
下載完整的簡報，深入了解 Exensio AIM Scan Analytics 的技術架構與主要優勢。
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