獨特且強大的特性分析能力

PDF Solutions 是參數化特性分析系統領域公認的商業領導者，率先採用短流測試晶片來開發及逐步提升新技術與產品，並在過去二十年間透過「整合良率提升」專案累積了數百項經驗證的成果。CV® 系統現亦提供訂閱制服務。

下載 CV 數據表

我們的特性分析載具系統

CV 系統提供細分且參數化的電氣數據，當與 Exensio 分析平台結合使用時，能提供可付諸實行的洞察，大幅縮短設計迭代週期，並將產品上市時間最多縮短三個月。

CV 系統是由針對本公司專有 pdFasTest® 平行參數測試儀所設計的高密度 CV 測試晶片佈局所組成，其資料產出速度比傳統測試晶片系統快 100 倍，並能自動匯入 Exensio® 分析平台。整個系統經過優化，可產生標註所有關鍵設計屬性的乾淨資料，以便進行高效的摘要與深入分析。

CV 系統提供低於十億分之一（sub-PPB）的統計解析度、廣泛的佈局圖案實驗設計（DoE）、面積效率以及自動化分析功能。企業目標得以在無與倫比的週轉時間內達成：短流程製造可將處理時間縮短數週至數月，且對整批完整光罩 CV 的 100% 測試與分析，可在不到一天內完成。

特性分析用車載測試晶片

PDF Solutions 已提供超過 100 片 10 奈米及以下製程的 CV 測試晶片。CV 測試晶片已被證實能精準反映製程與佈局之間的交互作用，此交互作用對於驗證及監控高良率、穩定的量產至關重要。每片 CV 測試晶片皆融合了我們數十年的產業經驗，並採用專有佈局及根據您的產品設計風格和／或製程技術量身訂製的實驗設計（DoE）。

無廠晶圓廠的 CV 系統

產品首次流片即成功對業務成功至關重要。 穩定的量產是優化在製品 (WIP) 及提升獲利的必要條件。專為無晶圓廠設計的 CV 系統提供參數分析洞見，協助您達成目標。MPW CV、Product Detective CV 以及 Direct Probe CV 測試晶片，能提供必要的分析洞見，協助在量產前發現功能性與參數性問題。Scribe CV 測試晶片與 CV 核心 IP 模組則提供監控與快速診斷能力，以最優化的成本實現高品質的量產。

適用於鑄造廠與整合式晶圓製造商（IDM）的化學氣相沉積（CV）系統

二十多年來，PDF Solutions 一直協助晶圓代工廠和整合式裝置製造商（IDM）在技術開發與量產爬坡過程中，達成世界級的學習效率。 我們的客戶仰賴短流程 BEOL CV 及 xFEOL CV 測試晶片（無論是全光罩或共享光罩），以在將製程、測試及分析時間降至最低的同時，最大化每片晶圓的學習效益。Scribe CV 能在量產過程中提供全晶圓的空間覆蓋率，並能針對關鍵產品進行客製化，從而實現快速推出新產品及持續提升良率所需的可觀察性。

在批量生產中最大化穩健性與可預測性

透過我們的「特性分析平台」所提供的詳盡裝置特性分析數據，結合「Exensio 分析平台」中的產品測試數據分析，可建立精確且針對特定產品的性能模型，從而獲得最適化的產品專屬製程參數，將製造的穩健性與可預測性提升至最高。