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onsemi 加速分析應用 – 下載
在這場簡報中，onsemi 製造工程總監 Tom Grein 詳述了該公司為加速其晶圓廠及先進封裝作業中的分析能力所制定的策略。他探討了該公司數據分析平台 Exensio™ 的演進歷程，以及中央「良率提升系統」（YES）團隊在協助工程師更快做出數據驅動決策方面所扮演的角色。 主要議題包括：優化授權使用、提升使用者參與度、建立端到端的碳化矽（SiC）血統追蹤系統以確保可追溯性，以及開發客製化的 Spotfire 可視化工具以強化分析能力。
下載這份簡報，了解 onsemi 如何建置一個可擴展的分析框架，以支援數千名使用者並推動持續創新。
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