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與 Advantest、Teradyne 及 PDF Solutions 的專題座談會 – 下載
本次簡報透過與來自 Advantest、Teradyne 及 PDF Solutions 的專家進行的專題座談，探討旨在優化半導體製造的實務先進測試方法。討論重點在於運用創新數據策略及由 AI/ML 驅動的方法，例如 Teradyne 的 Archimedes 分析工具與 Advantest 的 Vmin 調校應用程式，以實現更優異的良率、營運效率及裝置性能。 主要議題包括縮短 Vmin 測試時間、優化單核心功耗，以及運用故障預測模型來提升最終測試良率。
下載完整的簡報，了解機器學習推論如何改變晶圓分選與最終測試流程。
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