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運用 PDF Exensio 推動英特爾先進封裝與測試 – 下載
在先進封裝與測試領域中，每日產生的龐大數據量對資料標準化與分析構成了重大挑戰。在這場簡報中，英特爾首席工程師 Syed Baquar 將詳細說明英特爾如何運用 PDF Exensio® 平台，管理並分析從晶圓製造到最終測試的整個製程中的生產資料。 您將了解具體的應用案例，包括可追溯性、良率追蹤、缺陷分析，以及英特爾如何運用 Exensio 平台的整合式分析功能，以縮短發現並解決問題的平均所需時間。
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