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单设备可追溯性

由于Exensio IDM是面向半导体制造的真正端到端产品,其不仅涵盖制造和测试数据,还通过装配操作模块集成封装数据在此仪表板中,用户正在查看合格率(FT)与装配数据左侧为功能测试分箱帕累托图,显示故障箱代码106、107和108。右上角为所有托盘的汇总数据,右下角则展示单个托盘中合格件与故障件的具体位置分布。

通过将封装操作数据与测试操作数据集成,用户可借助封装操作提供的映射能力实现单芯片可追溯性,而无需依赖电子组件识别码(ECID)。这一特性是汽车、医疗等受监管行业以及对质量要求严苛的商业市场中的关键需求。

 

Exensio 可视化,由 Spotfire® 提供支持