インダストリー4.0向けに構築
半導体製造環境における収率最大化、設備性能向上、廃棄物削減を実現するリアルタイムデータ分析。既存のプロセス制御ツールと並行して使用可能。新規ファブを迅速かつ容易に、基準ファブと同等の性能で立ち上げ可能。
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プロセス制御(C-Ops)モジュールは、FDC分野における市場リーダーであり、世界中の6インチ、8インチ、12インチファブにおいてP-Opsによって管理される40,000台以上の製造装置をカバーしています。数百に及ぶ半導体製造装置のメーカーとモデルをサポートします。
PDFソリューションズは、ファブモデリングにおいて独自のトップダウンアプローチを採用しています。当社のファブ中心のプロセス制御アプローチは、フロントエンドとバックエンドの両方のデータを活用し、DEX(データ交換ネットワーク)を介して自動的に収集・統合されることで、強力なシグネチャ分析と診断を提供します。このアプローチにより、「ツール単位」の分散型導入と比較して効率的な導入が可能となり、ツールレベルおよび工場レベルでの意思決定と制御を実現します。


FDCツールセンサーレベル診断による逸脱事象の自動検出とドリルダウン機能により、プロセス・計測シフト、パラメトリックドリフト、予防保全、消耗品イベント検出を実行。

高度な診断機能によるワンステップパラメータスクリーニングで応答相関を駆動し、フィードバックをツール制御へ反映(動的SPC)—歩留まり、デバイスパラメトリクス、計測技術向け
エクセンシオの可視化ソリューションSpotfire® 搭載