全年無休（24/7/365）監控與保護您在測試作業中的半導體元件
無論這些作業發生在何處，皆能自動收集、分析並偵測製造過程中的測試、組裝及包裝作業中，那些對產品良率、品質或可靠性造成負面影響的統計性變化
全球部署——超過 4,000 名測試人員
「測試作業（T-Ops）」模組支援業界範圍最廣的現行及舊款測試儀器，目前正管理著全球 OSAT 及 IDM 中的超過 4,000 台測試儀器。所有測試作業資料均會自動收集，並可透過 DEX 進行互動式或基於規則的分析。
更高的品質與可靠性
測試營運（Test Operations）是您的裝置在送交客戶並進入供應鏈前的最後一道把關關卡。擁有一個能隨數據規模擴展，並提供滿足客戶需求所需之強大且靈活規則與分析功能的平台，至關重要。T-Ops 支援多種零件平均測試（PAT）演算法，例如 GDBN、NNR、DPAT、SPAT 及聚類分析。
更高的測試效率，更低的測試成本
「測試作業」功能透過深入分析測試機台與測試程式的效率，協助提升測試產能。透過全年無休（24/7/365）監控您的內部或外部測試作業，確保您能達到合格晶粒的最大產能，以履行合約義務。
支援各類規模的客戶
與其他公司的解決方案不同，Test Operations（作為 Exensio Fabless 或 Exensio IDM 的一部分）具備可擴展性，適用對象從小型新創公司到《財星》500 強企業皆可。我們擁有一支經驗豐富的全球整合團隊，能夠在極短時間內啟動快速部署，並將 Test Operations 整合至您的測試環境（IDM 或 OSAT）中。
測試運作的重點摘要
- 廣泛支援現行及舊版測試工具
- 雙向測試儀控制
- 透過 DEX 進行自動化的資料蒐集與清理
- 大數據分析（Cassandra 與 R）
- 針對特定測試的分析與圖表功能
- 無墨晶圓圖的編輯／合併／匯出
- 關於品質與可靠性的線上與線下規範
Exensio 可視化功能 由 Spotfire® 提供技術支援