產能工程師報告
快速節省時間並進行根本原因分析，以提升產品良率。輕鬆追蹤生產良率，以識別可能影響營運表現的問題與趨勢。不受產能限制，良率工程師可蒐集資訊，藉此辨識跨多種產品與製程的長期良率趨勢。請參閱下方 Exensio NPI 模組中良率工程師分析與報告的範例。
參數化產量分析
晶圓映射，包括參數分析、分級分析、合格/不合格分析、區域分析及廠區分析
反轉分析，包含「低 Cpk／高產量」與「高 Cpk、低產量」的摘要
將所有參數歸一化至規格限值 ±1，以進行 WAT 能力分析
結果的統計篩選
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產品
