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產業趨勢
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我在 SEMI「半導體製造中的 AI 技術」研討會上的收穫,以及這對 PDF Solutions 的意義
蘿拉·洛倫齊
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由人工智慧驅動的資料前饋:針對基於 Chiplet 的封裝進行先進測試的規模化應用
格雷格·普魯伊特
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從裝置物理學到設計實現:緊湊型建模、DTCO 以及與應力相關的 LLE 未來發展
安傑洛·羅索尼
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當流程選擇成為變異性調節器:整合如何形塑與壓力相關的 LLE
安傑洛·羅索尼
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矽晶片真正的訊息:擴散斷裂、閘極切口,以及應力相關 LLEs 的結構解析
安傑洛·羅索尼
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從矽資料到預測性物理學:建立用於應力相關 LLEs 的 3D TCAD 框架
安傑洛·羅索尼
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如何測量佈局敏感度:壓力相關 LLE 背後的實驗方法論
安傑洛·羅索尼
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當佈局成為裝置物理:為何應力相關的 LLE 在先進 CMOS 中至關重要
安傑洛·羅索尼
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DirectScan™:重新定義次世代半導體的電子束檢測技術
因德拉尼爾·德
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透過人工智慧驅動的協作與更明智的決策,支持半導體產業
PDF 解決方案
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柵極與鰭間距變化如何影響 FinFET 性能:來自 7 奈米製程技術的新見解
安傑洛·羅索尼
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人工智慧在製程控制領域的演進:從基礎的統計製程控制(SPC)到代理式人工智慧系統
喬恩·霍爾特
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